a tecnologia de caracterização e teste é a maneira fundamental de identificar cientificamente os nanomateriais, entender suas diversas estruturas, e avaliar suas propriedades especiais. o principal objetivo da caracterização de nanomateriais é determinar algumas propriedades físicas e químicas dos nanomateriais, como morfologia, tamanho, tamanho da partícula, composição química, estrutura cristalina, gap de banda e propriedades de absorção de luz. a caracterização da composição do nanopó geralmente tem os seguintes métodos:

1. espectroscopia de absorção atômica (aas)

o conteúdo do elemento testado na amostra é determinado de acordo com a intensidade de absorção de sua radiação de ressonância atômica pelos átomos do estado fundamental do elemento testado na fase de vapor.
é adequado para a determinação quantitativa de impurezas metálicas vestigiais em nanomateriais com baixo limite de detecção.
a precisão da medição é muito alta.
a seleção é boa, e nenhuma detecção de separação é necessária.
uma ampla gama de elementos analíticos está disponível.
elementos refratários, elementos de terras raras e elementos não metálicos não podem ser analisados simultaneamente para vários elementos.

2. espectroscopia de emissão atômica com plasma indutivamente acoplado (ICP)
O ICP é um método que utiliza plasma acoplado indutivamente como fonte de excitação para analisar o elemento a ser testado de acordo com as linhas espectrais características emitidas quando os átomos do elemento a ser testado no estado excitado retornam ao estado fundamental.
a análise simultânea de vários elementos é possível.
limite de detecção muito baixo.
a estabilidade é muito boa, a precisão é muito alta, e o efeito da análise quantitativa é bom.
a sensibilidade de detecção de elementos não metálicos é baixa.

3. espectrometria de massa de plasma indutivamente acoplado ICP-MS
ICP-MS é um método de espectrometria de massa elementar usando plasma acoplado indutivamente como fonte de íons.
o limite de detecção é baixo.
a análise é rápida.
a interferência do espectro é menor, e a análise isotópica pode ser realizada.

4. espectroscopia de fluorescência de raios-x xfs
este é um método analítico não destrutivo que pode ser medido diretamente em amostras sólidas. tem grandes vantagens na análise de composição de nanomateriais.
tem boa capacidade de análise qualitativa e pode analisar todos os elementos com número atômico maior que 3.
alta sensibilidade analítica.

5. epma de análise de sonda de elétrons
o método de análise de acordo com o comprimento de onda e a intensidade dos raios-x é chamado de análise de sonda de elétrons.
a precisão da análise é alta.
alta sensibilidade analítica.
amostra não destrutiva, detecção simultânea de vários elementos.
a análise do eleitorado está disponível.
análise de sonda de elétrons é ruim para elementos leves.

6. espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS)
XPS é um método de análise de superfície que usa raios X para irradiar a amostra, de modo que os elétrons internos ou elétrons de valência de átomos ou moléculas sejam excitados e emitidos, e os elétrons excitados por fótons são chamados de fotoelétrons, que pode medir a energia e a quantidade de fotoelétrons,, obtendo assim a composição do analito.
é uma análise que mede principalmente a energia de ligação dos elétrons para identificar as propriedades químicas e a composição da superfície da amostra.
análise qualitativa e quantitativa de elementos.
análise de superfície sólida.
dentro de 10 nm do fotoelétron da superfície, apenas a informação química da superfície é trazida, que tem as características de pequena área de análise, profundidade de análise rasa e nenhum dano à amostra.