Medir a espessura da camada de revestimento em nanopartículas requer o uso de instrumentos e técnicas avançadas. A seguir estão os métodos de medição possíveis:

Microscópio Eletrônico de Transmissão (TEM): Este é um microscópio que utiliza feixes de elétrons de alta densidade para observar e medir a estrutura e propriedades das nanopartículas. Para medir a espessura da camada de revestimento, o TEM pode determinar sua espessura observando a imagem da seção transversal das partículas.

Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM): Este microscópio também pode observar e medir a estrutura e propriedades das nanopartículas. Ao contrário do TEM, o SEM usa um feixe de elétrons em vez de um feixe de elétrons transmitido. Usando SEM, imagens transversais de amostras podem ser preparadas para determinar a espessura da camada de revestimento.

Espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS): XPS pode realizar análises químicas de superfícies. Ao analisar o espectro de raios X da superfície da partícula, a composição e a espessura da camada de revestimento podem ser determinadas.

Instrumento de medição nanomecânico : Este instrumento pode usar uma sonda de pressão para medir o comprimento, altura e espessura das partículas.

Esses instrumentos requerem conhecimento e habilidades profissionais para operar. Portanto, se você precisar realizar a caracterização de partículas, considere consultar um laboratório profissional ou especialista.