1, XRF (Fluorescência de Raios X Fluorescência de Raios X)
Use este método para análise química de superfície, mas você deve adquirir amostras padrão e desenhar curvas padrão. A amostra medida deve atender a várias condições, como uma superfície lisa e uma composição uniforme. Se a composição não for uniforme, só pode ser declarado que a composição da microárea medida por XRF é a mesma, e as outras não podem ser expressas.
Ou seja, se você quiser que a amostra seja precisa, você deve ter o padrão correspondente. A liga de cobre corresponde à liga de cobre, a liga de alumínio corresponde à liga de alumínio, o PVC ao PVC, o ABS ao ABS, e os materiais devem ser relativamente precisos. Se não corresponder, os resultados medidos só podem ser usados ​​para julgamento de referência. O resultado específico é baseado em ICP ou absorção atômica.
Amostras de XRF requerem pré-tratamento. Por exemplo, esmagar ou derreter é medir os ingredientes uniformemente.
Desvantagem
a) É difícil fazer uma análise absoluta, portanto, a análise quantitativa requer uma amostra padrão.
b) A sensibilidade aos elementos de luz é menor.
c) É suscetível a interferência elementar mútua e a picos sobrepostos.
2. EDS (espectrômetro de dispersão de energia)
É um elemento de medição e nenhum composto pode ser detectado. É também uma superfície, é impossível medir todo o material, e a análise pontual, a análise regional, etc. são apenas elementos de uma área específica. Se você quiser medir o conteúdo geral, consulte o exemplo de XRF. Além disso, a quantificação de EDS não tem permissão para ver amostras. Se as amostras atendem aos padrões de teste de XRF, a medição de EDS também é muito precisa, mas a EDS está no SEM, tudo para ver a forma original, portanto a amostra não pode fazer muito pré-processamento, EDS se torna semi- Somente quantitativo.
3, ICP (Plasma Acoplado Indutivamente)
O ICP pode ser usado para medir o conteúdo elementar do grau de PPM em solução. É também o conteúdo elementar. Este é um método de análise química. Se a operação estiver correta, a configuração da curva é bastante precisa.
No entanto, se sua amostra for sólida, ela precisa ser pré-tratada para fazer uma solução. Se é metal, precisa ser dissolvido com vários ácidos. Se não for metal, precisa ser dissolvido por vários métodos, como digestão por microondas, dissolução em alta temperatura e assim por diante.
O ICP-MS pode ser usado para fazer níveis de ppb, enquanto o XRF é da ordem de ppm.
Se o pré-tratamento for bem feito, o conteúdo elementar medido pelo ICP é o conteúdo geral! Não é o conteúdo da superfície. Em termos de efeito, XRF e EDS são análise de elementos de superfície, e ICP é o todo.

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