1, XRF (Fluorescência de Raios X Fluorescência de Raios X)Use este método para análise química de superfície, mas você deve adquirir amostras padrão e desenhar curvas padrão. A amostra medida deve atender a várias condições, como uma superfície lisa e uma composição uniforme. Se a composição não for uniforme, só pode ser declarado que a composição da microárea medida por XRF é a mesma, e as outras...
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tamanho de partícula: o tamanho das partículas é chamado de tamanho de partícula , geralmente o tamanho de partícula de partículas esféricas é expresso por diâmetro/tamanho de partícula, e o tamanho de partícula de partículas cúbicas é expresso por comprimento de lado. tamanho de partícula é o diâmetro de uma partícula. entretanto, a maioria das partículas na prática são irregulares. portanto, par...
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a tecnologia de caracterização e teste é a maneira fundamental de identificar cientificamente os nanomateriais, entender suas diversas estruturas, e avaliar suas propriedades especiais. o principal objetivo da caracterização de nanomateriais é determinar algumas propriedades físicas e químicas dos nanomateriais, como morfologia, tamanho, tamanho da partícula, composição química, estrutura cristali...
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Microscopia Eletrônica de Transmissão (TEM) A microscopia eletrônica de transmissão usa um feixe de elétrons que penetra uma amostra para a imagem, o que requer que a amostra observada seja "transparente" ao feixe de elétrons incidente. A microscopia eletrônica de transmissão é amplamente utilizada na ciência dos materiais e na biologia. Como os elétrons são facilmente dispersos ou absorvidos pelo...
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O Espectrômetro de Massa de Plasma Acoplado Indutivamente ICP-MS é um instrumento analítico que combina tecnologia ICP e espectrometria de massa. Ele pode medir simultaneamente dezenas de oligoelementos. O instrumento abrange uma ampla gama de elementos, incluindo metais alcalinos, metais alcalino-terrosos, metais de transição e outros metalóides, elementos de terras raras, a maioria dos halogênio...
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O desvio de medição do analisador de tamanho de partícula é influenciado por vários fatores, e a seguir estão alguns fatores possíveis: As propriedades físicas da amostra: A forma, tamanho, densidade e cor da amostra podem afetar o desvio de medição do analisador de tamanho de partícula. Ambiente de medição: Medir fatores ambientais como temperatura, umidade e pressão pode levar a distorções de me...
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Medir a espessura da camada de revestimento em nanopartículas requer o uso de instrumentos e técnicas avançadas. A seguir estão os métodos de medição possíveis: Microscópio Eletrônico de Transmissão (TEM): Este é um microscópio que utiliza feixes de elétrons de alta densidade para observar e medir a estrutura e propriedades das nanopartículas. Para medir a espessura da camada de revestimento, o TE...
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XRF é a abreviatura de análise de fluorescência de raios X, que utiliza as características dos raios X para realizar análises não destrutivas de substâncias. XRF é a abreviatura de analisador de espectroscopia de fluorescência de raios X, adequado para identificar e medir elementos em amostras sólidas, líquidas e em pó. Ele determina a composição elementar da amostra medindo a fluorescência emitid...
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