-
1. Classificação de Microscópios Eletrônicos de Varredura A microscopia eletrônica de varredura pode ser dividida em tipo de emissão térmica de elétrons e tipo de emissão de campo de acordo com as diferentes formas de geração de elétrons. O filamento usado para o tipo de emissão térmica de elétrons é principalmente a microscopia eletrônica de filamento de tungstênio. Tipo de emissão de campo A dis...
consulte Mais informação
-
A sinterização de materiais envolve pelo menos dois processos: densificação do corpo e crescimento de grãos no corpo. A longevidade dos grãos geralmente é alcançada através do movimento dos limites dos grãos. De acordo com a teoria clássica da cinética de crescimento de grãos, a diferença na energia livre entre os dois lados de um contorno de grão curvo é a força motriz que faz com que a interface...
consulte Mais informação
-
Depois de comprar o pó nano de óxido de ferro da nossa empresa, o cliente descobriu que o tamanho das partículas era maior durante o teste Por que é que? Como o tamanho das partículas do nano em pó é muito fino, é fácil de aglomerar, portanto, o tamanho grande de partículas testado é o tamanho das partículas após a aglomeração Então, como podemos efetivamente Disperse nano Óxido de ferro em pó? Em...
consulte Mais informação
-
As propriedades de dióxido de vanádio:A fórmula molecular do dióxido de vanádio é VO2, com um peso molecular de 82 94 É um pó de cristal azul escuro com uma estrutura cristalina monoclínica Insolúvel em água, facilmente solúvel em ácido e álcali Quando dissolvido em ácido, não pode gerar íons tetravalentes, mas gera íons de óxido de vanádio divalente positivos Quando aquecido ao calor vermelho em ...
consulte Mais informação
-
Microscópio eletrônico de varredura (MEV)é uma ferramenta fundamental para a exploração científica moderna do mundo microscópico. Desempenha um papel insubstituível na pesquisa científica e em aplicações industriais, permitindo-nos obter insights sobre a estrutura microscópica da matéria por meio da tecnologia de imagens eletrônicas de alta resolução. A MEV varre a superfície da amostra com um fei...
consulte Mais informação
-
As principais limitações emDesempenho TEMsão a aberração esférica (também conhecida como aberração), a aberração cromática e o astigmatismo. A aberração esférica e a aberração cromática limitam a resolução do TEM tradicional. Ambos os defeitos são inevitáveis ao utilizar campos eletromagnéticos simétricos rotacionais estáticos. A aberração esférica é o fator mais importante que determina o desempe...
consulte Mais informação
-
Pó de silício (incluindo escala micrométrica e nanométrica) possui uma ampla gama de aplicações em diversos campos devido à sua alta atividade química, grande área superficial específica e propriedades semicondutoras. Por exemplo: 1. Indústria de Eletrônicos e Semicondutores Circuitos integrados e chips: O pó de silício de alta pureza (acima de 99,999%) é uma matéria-prima para a fabricação de sil...
consulte Mais informação
-
Moldagem por injeção de metal (MIM) é um processo de fabricação avançado que combina moldagem por injeção de plástico e tecnologia de metalurgia do pó, capaz de produzir com eficiência peças metálicas de formas complexas, de alta precisão e alto desempenho. Primeiro. O processo básico da tecnologia MIM O processo MIM consiste principalmente nas quatro etapas principais a seguir: 1. Preparação da r...
consulte Mais informação
-
Nas áreas de processamento de materiais e produção química, agentes de acoplamento, agentes de reticulação e dispersantes são três aditivos comumente utilizados com funções distintas, mas todos têm um impacto crítico nas propriedades dos materiais. A seguir, apresentamos uma explicação detalhada sobre os aspectos de definição, principais características, tipos típicos e principais diferenças. Agen...
consulte Mais informação
-
Em transmissão análise por microscopia eletrônica de transmissão (MET) A etapa principal e crucial para obter uma imagem de alta qualidade que possa ser interpretada de forma razoável é a preparação da amostra. Espessura inadequada da amostra, baixa condutividade ou danos introduzidos durante a preparação podem levar diretamente à penetração anormal do feixe de elétrons, distorção da imagem e até ...
consulte Mais informação
[ Um total de 18 Páginas]
serviço on-line
13929258449
admin@satnano.com
+ 8613929258449
